Kromě toho představí odborníci z National Instruments nejnovější technologie pro měření, testování, vestavné řízení a také technologie pro nejnáročnější VF aplikace.
Účast na této konferenci je bezplatná, stačí se zaregistrovat.
Datum: 7.11.2013, 9:00-17:00
Místo konáni: Praha, Hotel Don Giovanni
Registrace: czech.ni.com/nidays/registrace
NIDays 2013 hlavní technické novinky
- Nejnovější technologické trendy, produkty a řešení pro oblasti:
- Software a sběr dat
- Automatizované měření a testování
- Průmyslové a embedded technologie
- Řešení pro vzdělávání a výzkum
5 důvodů pro účast na NIDays
Podrobné technické semináře: Zúčastněte se a dozvíte se více o produktech NI, uživatelských aplikacích, trendech v oboru, a získáte odborné technické znalosti od inženýrů z NI i od dalších účastníků.
Navázání kontaktu s uživateli produktů NI: Setkejte se s dalšími techniky, kteří pracují s LabVIEW a nástroji od NI ve všech aplikačních oblastech.
Konzultace se systémovými integrátory: Představení a prezentace více než 10-ti systémových integrátorů s mnohaletou zkušeností v oblasti vývoje komplexních aplikací nejen v LabVIEW. Následně budete mít příležitost konzultace vašich projektů.
Praktické zkušenosti. Vyzkoušejte si sami naše nástroje.
Vyzkoušejte si nejnovější software na jednom z praktických seminářů nebo se poprvé seznamte s LabVIEW. Naši techničtí odborníci budou připraveni odpovědět na Vaše dotazy ohledně nejnovějších produktů NI.
Bezplatná zkouška Certified LabVIEW Associate Developer (CLAD):
Na konci konference dostanete příležitost složit bezplatně zkoušku CLAD. Tato certifikace prokazuje rozsáhlou pracovní zkušenost s prostředím LabVIEW, základní porozumění zvyklostem při psaní kódu a dokumentace a schopnost pochopit a interpretovat již vytvořený kód.
Další informace: czech.ni.com/nidays
