Společnost NI, poskytovatel systémových platforem které technikům, ale třeba i vědcům, umožňují řešit ty nejnáročnější úkoly, v srpnu představil Wireless Test System (WTS). Jde o řešení, které zásadní měrou snižuje náklady na výrobní testování bezdrátových zařízení ve velkých objemech. I přes vzrůstající složitost testování bezdrátových technologií mohou firmy bez obav snižovat náklady a zvyšovat výrobní kapacitu díky paralelně běžícímu systému, optimalizovanému na rychlost testování.
„Největší trendy, jako například internet věcí (IoT), způsobí, že stále větší množství zařízení bude zahrnovat vf komunikaci a senzory, což jsou technologie, jejichž testování bylo tradičně velice nákladné. Náklady na testování by však neměly omezovat inovace či ekonomickou životaschopnost produktu,“ podotýká Olga Shapiro, programová manažerka pro měření a instrumentaci u Frost & Sullivan. „Aby zůstaly ziskové i v budoucnu, budou muset společnosti změnit přístup k testování bezdrátových technologií a přijmout nový pohled na tuto problematiku. Protože je systém WTS postaven na prověřené platformě PXI a podporován zkušenostmi společnosti NI, očekáváme jeho významný dopad na profitabilitu technologií IoT.“
Systém WTS spojuje nejnovější pokroky hardwaru PXI a nabízí jednotnou platformu pro testování, zahrnující více standardů, více testovaných jednotek a více portů. Pokud výrobci použijí flexibilní software pro tvorbu testovacích sekvencí, jako je TestStand Wireless Test Module, mohou významně zvýšit využití instrumentace při paralelním testování několika zařízení. Systém WTS lze snadno integrovat do výrobní linky. Součástí jsou testovací sekvence připravené k použití pro zařízení, které používají čipové sady od výrobců, jako jsou Qualcomm a Broadcom, stejně jako integrované řízení pro testovanou jednotku a vzdálenou automatizaci. S těmito funkcemi dosahují zákazníci významného zvýšení efektivity svého vybavení pro vf testování a snižují tak náklady na testování.
„Se systémem NI WTS jsme testovali různé bezdrátové technologie, od Bluetooth, přes WiFi, GPS a mobilní telekomunikace, s pomocí stejného vybavení,“ vysvětluje Markus Krauss ze společnosti HARMAN/Becker Automotive Systems GmbH. „Systém WTS a odborné zkušenosti s vf testováním společnosti NOFFZ nám pomohly významně zkrátit čas potřebný pro testování a pro uvedení testovacích systémů do provozu.“
WTS je nejnovější systém od NI postavený na hardwaru PXI a na softwaru LabVIEW a TestStand (podívejte se na testovací systém pro polovodiče uvedený v roce 2014). S podporou pro bezdrátové standardy - od LTE Advanced, přes 802.11ac až po Blutooth Low Energy - je systém WTS navržen pro výrobní testování přístupových bodů WLAN, mobilních telefonů, infotainment systémů a dalších zařízení pracujících s mnoha standardy, jako jsou mobilní telekomunikace, bezdrátové sítě a navigační systémy. Vektorový signálový transceiver PXI se softwarovým návrhem uvnitř WTS přináší výjimečný výkon pro výrobní testování a představuje platformu, která se dokáže přizpůsobovat měnícím se požadavkům na vf testování.
Více informací o novém systému Wiresless Test System naleznete na adrese ni.com/wts.
LabVIEW, National Instruments, NI, ni.com a NI TestStand jsou registrované obchodní známky společnosti National Instruments. Další zmíněné názvy produktů a společností jsou obchodními známkami či obchodními názvy příslušných společností.
