HW server
HW.cz
vývoj
automatizace
byznys
student
dir
obchod
Rubriky HW.cz 2012
Teorie a praxe
Návrh obvodů
Součástky
Výroba
Produkty
Akce a události
Jste zde
Domů
»
Zajímavé akce - kalendář
» Zajímavé akce - kalendář
Zajímavé akce - kalendář
Hlavní záložky
Měsíc
(aktivní záložka)
Týden
Den
Rok
Leden 2022
Next »
Po
Út
St
Čt
Pá
So
Ne
27
28
29
30
31
1
2
3
4
5
6
7
8
9
CES 2022: The Countdown Is On
05.01.2022
-
08.01.2022
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
NORTEC 2022 - Nejvýznamnější strojírenský veletrh severní Evropy
25.01.2022
-
28.01.2022
31
1
2
3
4
5
6
Search
Hledat
Nový MCU podporuje kapacitní tlačítka, segmentový LCD displej, tedy klasická rozhraní pro měření, snímání IoT, chytré zámky a...
Možnosti nových modulů u-bloxu se odvíjejí od SoC nRF54L, který kombinuje nízkou spotřebu, solidní výkon a špičkové zabezpečení.
Kromě modulů pro vývoj Edge AI aplikací s čipy NVIDIA má AAEON řadu novinek s i.MX 93 od NXP nebo Intel Atom.
Antény Sunnyway nabízejí precizní přenos signálu v širokém spektru aplikací. Jejich portfolio pokrývá potřeby od...
Uživatel
Přihlásit se
Zajímavé akce
Embedded World 2025
/
11. 03. 2025
/
Svět vestavěných systémů je mnohostranný – od hardwaru a softwaru po služby a nástroje. Embedded world Exhibition&Conference sdružuje jednou...
AMPER 2025
/
18. 03. 2025
/
Největší mezinárodní veletrh elektrotechniky, elektroniky a energetiky v České republice a na Slovensku.
Hannover Messe 2025
/
31. 03. 2025
/
Největší evropský průmyslový veletrh se koná v německém Hannoveru.
Sensor+Test 2025
/
06. 05. 2025
/
SENSOR+TEST je přední světové fórum pro senzorové, měřicí a testovací technologie.
Únor
«
»
P
Ú
S
Č
P
S
N
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
Oblíbená témata
Startup
PLC
LTE
robotika
Technika budov
Dokumentace
HWPortal-SensDesk
5G
Vision
Hobby
GNSS
hwobchod
Konektory
Automotive
Cloud
Rapid prototyping
internet věcí
wireless
Industry40
Embedded bezpečnost
AI - umělá inteligence
ethernet
rozhraní
IoT
KNX
HW group
kvalita vzduchu
RFID
testovani a mereni
interface
Více