Jste zde

National Instruments představuje první PXI VF vektorový obvodový analyzátor

National Instruments, 1. Únor 2011 - 0:00

Nový dvoupozicový PXI modul přináší 6 GHz vektorovou obvodovou analýzu pro precizní automatické VF testování.

Společnost National Instruments oznámila uvedení přístroje NI PXIe-5630 na trh – jedná se o 6 GHz vektorový obvodový analyzátor (VNA) se dvěma porty. Jde o první VNA přístroj v oboru automatického testování, který je dostupný v kompaktní podobě PXI. S podporou pro plnou vektorovou analýzu parametrů přenosu a odrazu (T/R), precizní automatickou kalibrací a flexibilní softwarově definovanou architekturou se tento nový analyzátor ideálně hodí pro automatizovanou validaci návrhů a výrobní testování. Díky jeho modulární PXI architektuře a malým rozměrům (dvě pozice) mohou testovací technici integrovat do svých testovacích systémů vektorový obvodový analyzátor bez zátěže v podobě dodatečných nákladů a velikých rozměrů jako u tradičních laboratorních přístrojů.

„Tento 6 GHz VNA demonstruje naše pokračující investice do vývoje VF řešení, které pomáhají uživatelům zvyšovat přesnost a propustnost při testování, přičemž zároveň snižují náklady, rozměry a složitost,“ řekl Phil Hester, senior viceprezident výzkumu a vývoje společnosti National Instruments. „Jsme hrdí, že jsme mohli tento analyzátor zařadit do našeho již teď silného a rostoucího portfolia modulárních PXI přístrojů pro VF.“

Přístroj NI PXIe-5630 je optimalizován pro automatické testování s vyspělými funkcemi, jako je automatická precizní kalibrace, plná vektorová analýza na obou portech, možnost rozšíření referenční základny a flexibilní API rozhraní pro LabVIEW, které je zvláště vhodné pro paralelní testování. Tento VNA má také pokročilé specifikace, které zahrnují frekvenční rozsah od 10 MHz do 6 GHz, široký dynamický rozsah větší než 110 dB a rychlost přeběhu kratší než 400 mikrosekund/bod přes 3201 bodů. Kromě toho mohou uživatelé díky PXI formátu kombinovat až osm modulů NI PXIe-5630 v jediném šasi PXI a provádět tak vícenásobné VF testování skutečně paralelním způsobem.

Uživatelé mohou ovládat modul NI PXIe-5630 interaktivně, prostřednictvím jeho plnohodnotného softwarového čelního panelu, nebo programově prostřednictvím API rozhraní pro vývojová prostředí NI LabVIEW a NI LabWindows™/CVI s ANSI C. Obě API rozhraní jsou optimalizována pro zpracování na více procesorových jádrech kvůli usnadnění paralelního testování několika VF komponent současně, což má za následek významné zvýšení propustnosti oproti tradičnímu sekvenčnímu testování s přepínáním.

Modul NI PXIe-5630 dále rozšiřuje již tak širokou nabídku modulárních PXI přístrojů pro automatické testování. Výhoda, která vyplývá ze standardu PXI, umožňuje integraci tohoto VNA s více než 1500 PXI přístroji od NI a více než 70 dalších výrobců, a splňuje tak požadavky na téměř jakoukoliv testovací aplikaci. Tento VNA je dostupný od října 2010. Více informací o přístroji NI PXIe-5630 naleznou čtenáři na adrese www.ni.com/vna.