Jste zde

Nová generace testovacích přípravků Y-RED

Codico, 27. Říjen 2021 - 14:30

Série testovacích přípravků Y-RED od YAMAICHI Electronics se rozrostla. Kromě ověřování integrovaných čipů se nyní řada zaměří na analýzu senzorických poruch.

S desítkami let zkušeností s navrhováním úplných a polozakázkových testovacích přípravků, Y-RED kombinuje špičkovou technologii a standardizované jednotlivé díly se zjednodušeným, uživatelsky příjemným postupem montáže.Jako první produkt nové generace Y-RED byl na konci roku 2019 uveden na trh standardní sklopný testovací přípravek pro kvalifikaci součástí. Nyní následuje několik rozšíření .

Analýza poruch Y-RED

Zatímco již dostupný přípravek Y-RED se používá hlavně pro validaci integrovaných čipů, nový testovací přípravek Y-RED se specializuje na analýzu senzorických poruch (FA). Otvorem ve víku je nyní při testování viditelná celá součást. Odolná skleněná deska zajišťuje rovnoměrné rozložení tlaku při kontaktu. Toho se využívá při analýzy čipů s pevnou imerzní čočkou a emisní mikroskopií.

Velikostní rozmanitost

Pro velikost DUT mezi 1,5x1,5mm a 5x5mm je k dispozici verze pro Y-RED EV a nový testovací přípravek FA. Kompaktnější provedení testovacího přípravku nejen šetří místo na desce, ale také přibližuje měření k součástce. Rozteč začíná již na 0,3 mm a rozsah aplikační teploty je od -40°C do +150°C. Pro rozměry větší než 5x5mm až do max.12x12mm se používá větší formát přípravků Y-RED. Stejně jako ostatní testovací přípravky Y-RED je i menší verze určena pro LGA, QFN a BGA / (WL) CSP.

Sondy s nízkou indukčností

Tato vlastnost je vhodná pro laboratorní měření s požadavky na velmi nízkou indukčnost. Toto lze nainstalovat do všech prezentovaných testovacích přípravků. Výška kontaktu pouhých 2,80 mm má velký význam právě na malou indukčnost. K dispozici je rozteč mezi 0,3 mm a 0,5 mm. Teplotní rozsah použití je -40°C až +125°C.