Jste zde

Konference o automatizovaném testování 2011

NI_logo.jpg
Datum: 
Čtvrtek, 5. Květen 2011

Společnost National Instruments si Vás dovoluje pozvat na 2. Konferenci o automatizovaném testování. Tato bezplatná celodenní akce je určena pro odborníky, kteří vyvíjejí a testují moderní výrobky téměř v jakémkoliv oboru. Rozsah testovaných zařízení je široký – od kuchyňské bílé techniky až po nejnovější spotřební elektroniku jako jsou např. televizory, přijímače digitální televize nebo sofistikovanou elektroniku, určenou pro dopravní prostředky, jako např. letecké radiové odpovídače, multimediální systémy pro automobily nebo elektronické řídicí jednotky. 

Konference proběhne v Praze dne 5. května 2011, přičemž program včetně obsahu prezentací je dostupný již nyní. Podrobnosti včetně možnosti registrace ZDE.