Amtest-TM s. r. o. si Vás dovoluje pozvat na bezplatnou technickou přednášku s názvem„Diagnostické, proti-padělkové (counterfeit) a měřicí přístroje ABI Electronics“, která bude zaměřena na diagnostiku poruch, lokalizace chyb a následné testování funkčnosti při opravách veškeré spotřební a průmyslové elektroniky, návrh a vývoj nových elektronických obvodů a zařízení, testování v malosériové výrobě, výuku odborných předmětů na středních a vysokých školách elektrotechnického směru, profesní školení zaměstnanců a posuzování kvality nakoupených součástek (účinné odhalování padělků integrovaných obvodů)

V průběhu přednášky si můžete sami ověřit funkce přístrojů při efektivní diagnostice poruch elektroniky na připraveném vybavení. Seznámíte se také s technikami a tipy naprogramování si vlastního testovacího přístroje pomocí SW Premier8 včetně možností sestavení testovacích sekvencí umožňující automatizovanou diagnostickou popř. výukovou činnost. Shlédnete také metodiku diagnostiky a programování procesorů a způsob činnosti zařízení odhalujícího padělky integrovaných obvodů.  Získané zkušenosti a informace Vám umožní lépe a efektivněji vykonávat práci, což se projeví na snížení nákladů.

Přednáška je určena všem, kteří se zabývají návrhem a vývojem jakékoliv elektroniky, opravářům veškeré spotřební a průmyslové elektroniky, ale také pedagogickým pracovníkům na vysokých a středních odborných školách, studentům a v neposledním řadě pracovníkům nákupu či prodejcům elektronických součástek.

• Datum : čtvrtek 2. 4. 2009
• Čas : 13.00 – 15.00
• Místo: Veletrh AMPER 2009, PVA Letňany PRAHA
• Sál : Malá konferenční místnost, č. 2 (vstupní hala PVA)
• Vstupné: ZDARMA!
• Přihláška - ke stažení na stránkách www.amtest-tm.com

V případě jakýchkoliv dotazů nás prosím kontaktujte na tel: +420 572 572 028, +420 731 440 664, popř. na e-mailu: jiri.kroca@ amtest-tm.com
Vzhledem k omezené kapacitě míst pro tuto přednášku, zašlete prosím registraci co nejdříve! Těšíme se na setkání s Vámi!